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王子计测超高位相差测量PAM-UHR100特点：
①1nm宽测量范围
②高重复精度±1nm
③良好的可操作性
④软件
测定对象：
位相差薄膜，塑料，偏振片
光盘
液晶组件
磁带用胶片
收缩薄膜
其他一般用途胶片
用途：
光学功能胶片的研究开发，质量管理
延伸胶片的定向评价(三维折射率，表面定向度)
包装膜的热收缩、撕脱性等的评价
液晶元件的双绞线波长色散特性评估
光学器件的透射椭圆偏振光的评价
https://www.chem17.com/st458787/product_35214427.html
http://www.shofound.cn/SonList-2186023.html
位相差测量